UNE-EN 62418:2010
Dispositivos semiconductores. Ensayo de esfuerzos para metalización en vacio (Ratificada por AENOR en octubre de 2010.)
| Fecha edición: |
2010-10-01
En Vigor
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| Fecha de ratificación: | 2010-10-01 |
| Idiomas disponibles: | Inglés |
| ICS: | 31.080.01 - Dispositivos semiconductores en general |
| CTN: | CTN 209/SC 47 - Dispositivos de semiconductores |
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Equivalencia Internacional |
Idéntica IEC 62418:2010 Idéntica EN 62418:2010 |










