UNE-EN 62047-26:2016
Dispositivos semiconductores. Dispositivos microelectromecánicos. Parte 26: Descripción y métodos de medición para microsurcos y estructuras de agujas (Ratificada por AENOR en junio de 2016.)
| Fecha edición: |
2016-06-01
En Vigor
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| Fecha de confirmación: | 2025-12-15 |
| Fecha de ratificación: | 2016-06-01 |
| Idiomas disponibles: | Inglés |
| ICS: | 31.080.99 - Otros dispositivos semiconductores |
| CTN: | CTN 209/SC 47 - Dispositivos de semiconductores |
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Equivalencia Internacional |
Idéntica EN 62047-26:2016 Idéntica IEC 62047-26:2016 |










