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IEC 62047-34:2019
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 34: Test methods for MEMS piezoresistive pressure-sensitive device on wafer
| Fecha edición: |
2019-04-05
En Vigor
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|---|---|
| Idiomas disponibles: | Inglés |
| Resumen: | IEC 62047-34:2019 (E) describes test conditions and test methods of electric character, static performances and thermal performances for MEMS pressure-sensitive devices. This document applies to test for both open and closed loop piezoresistive MEMS pressure devices on wafer. |
| ICS: | 31.080.99 - Otros dispositivos semiconductores, 31.140 - Dispositivos piezoeléctricos y dieléctricos |
| CTN: | TC 47/SC 47F - 1449 |










