IEC 61967-8:2023
Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions - Part 8: Measurement of radiated emissions - IC stripline method
| Edition date: |
2023-05-03
In Force
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| Available languages: | English, French |
| Summary: | IEC 61967-8:2023 defines a method for measuring the electromagnetic radiated emission from an integrated circuit (IC) using an IC stripline. The IC being evaluated is mounted on an EMC test board (PCB) between the active conductor and the ground plane of the IC stripline arrangement. This edition includes the following significant technical changes with respect to the previous edition: a) frequency range of 150 kHz to 3 GHz was deleted from the scope; b) extension of upper usable frequency to 6 GHz or higher as long as the defined requirements are fulfilled. L’IEC 61967-8:2023 définit une méthode de mesure des émissions électromagnétiques rayonnées d’un circuit intégré (CI) à l’aide d’une ligne TEM à plaques (stripline) pour circuit intégré. Le CI à évaluer est monté sur une carte d’essai CEM (carte à circuit imprimé) entre le conducteur actif et le plan de masse du dispositif de la stripline pour CI. Cette édition inclut les modifications techniques majeures suivantes par rapport à l’édition précédente: a) la plage de fréquences de 150 kHz à 3 GHz a été retirée du domaine d’application; b) la fréquence utile supérieure est étendue à 6 GHz ou plus dans la mesure où les exigences définies sont remplies. |
| ICS: | 31.200-Integrated circuits. Microelectronics microstructures |
| CTN: | TC 47/SC 47A - 1368 |
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Standards Cancellations |
Anula a IEC 61967-8:2011 |
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Otras Relaciones |
Acuerdo de Frankfurt FprEN IEC 61967-8:2023 |










