IEC 60759:1983
Standard test procedures for semiconductor X-ray energy spectrometers
| Fecha edición: |
1983-01-01
En Vigor
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| Idiomas disponibles: | Inglés, Francés |
| Resumen: | Gives standard test procedures for semiconductor X-ray energy spectrometers consisting of a semiconductor radiation detector assembly and signal processing electronics interfaced to a pulse-height analyzer/computer. Donne les méthodes d'essais normalisés des spectromètres d'énergie X à semicteur constitués d'un semicteur et de l'électronique de traitement du signal liés par une interface à un analyseur d'amplitude couplé à un calculateur. |
| ICS: | 17.240 - Medición de radiaciones |
| CTN: | TC 45 - 1244 |
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Modificaciones Normas |
Es modificada por IEC 60759:1983/AMD1:1991 |










