IEC 60749-36:2003
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 36: Acceleration, steady state
| Edition date: |
2003-02-13
In Force
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|---|---|
| Available languages: | Spanish, English, French |
| Summary: | Provides a test for determining the effects of constant acceleration on cavity-type semiconductor devices. It is an accelerated test designed to indicate types of structural and mechanical weaknesses not necessarily detected in shock and vibration test. Décrit un essai utilisé pour déterminer les effets d'accélération constante sur les dispositifs à semiconducteurs de type à cavité. Il s'agit d'un essai accéléré destiné à indiquer les types de faiblesses structurelles et mécaniques non nécessairement détectées dans les essais de chocs et de vibrations. |
| ICS: | 31.080.01-Semiconductor devices in general |
| CTN: | TC 47 - 1251 |
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Reemplazo Normas |
Reemplazada parcialmente a IEC 60749:1996 Reemplazada parcialmente a IEC 60749:1996/AMD1:2000 Reemplazada parcialmente a IEC 60749:1996/AMD2:2001 |










