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DIN IEC 49/363/CD:1997-02
A standardized test procedure for the characterization of latch up in crystal controlled oscillators CMOS integrated circuits (IEC 49/363/CD:1996)
| Fecha edición: |
2002-10-01
Anulada
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|---|---|
| Fecha cancelación: | 2002-10-01 |
| Idiomas disponibles: | Alemán, Inglés |
| Resumen: | The document defines a measurement procedure for the characterization of quartz crystal controlled oszillators CMOS integrated circuit latch-up susceptibility/immunity. Das Dokument definiert ein Meßverfahren für die Bestimmung der Empfindlichkeit bzw. Störfestigkeit von CMOS-IC-Quarzoszillatoren gegenüber dem "Latch-up"-Effekt. |
| Keywords: | Determination|Electrical engineering|Electronic engineering|Electronic equipment and components|Interference rejections|Latch-up|Measuring techniques|Oscillators|Piezoelectric devices|Quality|Quality assurance|Quartz crystal controlled oscillators|Sensitivity|Testing |
| ICS: | 31.140 - Dispositivos piezoeléctricos y dieléctricos |
| CTN: | |
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Reemplazo Normas |
Es reemplazada por DIN EN 60679-1:2002-10 |










