DIN 50987:1987-07
Measurement of coating thickness by the X-ray spectrometric method
| Aviso: | Las normas que son modificaciones no son documentos independientes y deben adquirirse con la norma a la que modifica. |
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| Fecha edición: |
2001-12-01
Anulada
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| Fecha cancelación: | 2001-12-01 |
| Idiomas disponibles: | Inglés, Alemán |
| Resumen: | This standard describes a method for measurement the coating thickness with X-ray fluorescent method. Die Norm beschreibt ein Verfahren zur Schichtdickenmessung mit der Röntgenfluoreszenz-Methode. |
| Keywords: | Coating thickness|Coatings|Definitions|Measurement|Measuring techniques|Metal coatings|Testing|Thickness|Thickness measurement|X-ray fluorescence spectrometry |
| ICS: | 17.040.20 - Estado de las superficies |
| CTN: | |
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Modificaciones Normas |
Modifica a ISO 3497:1976 Modifica a ISO 3497:1990 |
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Reemplazo Normas |
Reemplaza a DIN 50987:1985-06 Es reemplazada por DIN EN ISO 3497:2001-12 |










