CEN/TS 18094:2024
Non-destructive testing - Test method for determining residual stresses by synchrotron x-ray diffraction
| Fecha edición: |
2024-12-18
En Vigor
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|---|---|
| Idiomas disponibles: | Francés, Inglés |
| Resumen: | This document describes the test method for determining residual stresses in polycrystalline materials by the synchrotron X-ray diffraction method. The method can be applied to both homogeneous and inhomogeneous materials including those containing distinct phases.
Information on how to carry out residual stress measurements by the synchrotron X-ray diffraction technique is provided as:
- the selection of appropriate diffracting lattice planes on which measurements should be made for different categories of materials,
- the specimen directions in which the measurements should be performed,
- the volume of material examined in relation to the material grain size and the envisaged stress state,
- the selection of the stress-free reference (sample) facilitating the residual strain calculation, and
- the methods available for deriving residual stresses from the measured strain data.
Procedures are presented for calibrating synchrotron X-ray diffraction instruments, enabling:
- accurately positioning and aligning test pieces;
- precisely defining the volume of material sampled for the individual measurements;
and also for:
- making measurements;
- carrying out procedures for analysing the results;
- determining their uncertainties.
The principles of the synchrotron X-ray diffraction technique are described and put into perspective with EN 15305:2008 and EN ISO 21432:2020, which are used to measure stresses in the bulk of a specimen. Le présent document décrit la méthode d’essai permettant de déterminer les contraintes résiduelles dans les matériaux polycristallins par la méthode de diffraction des rayons X au synchrotron. La méthode peut être appliquée aux matériaux homogènes et non homogènes, y compris ceux contenant des phases distinctes. Des informations sont fournies sur la manière de réaliser les évaluations des contraintes résiduelles par la technique de diffraction des rayons X au synchrotron en ce qui concerne : — la sélection appropriée de plans réticulaires de diffraction sur lesquels il convient d’effectuer des mesurages pour différentes catégories de matériaux ; — les directions de l’éprouvette dans lesquelles il convient d’effectuer les mesurages ; — le volume de matériau examiné en fonction de la taille du grain et de l’état de contrainte visé ; — le choix de la référence (échantillon) sans contrainte facilitant le calcul de déformation résiduelle ; — les méthodes disponibles pour calculer les contraintes résiduelles à partir des mesures de déformation. Des modes opératoires sont présentés pour l’étalonnage des appareils de diffraction des rayons X au synchrotron, permettant : — le positionnement et l’alignement corrects des pièces d’essai ; — la définition précise du volume de matériau échantillonné aux fins des mesurages individuels ; mais aussi pour : — la réalisation des mesurages ; — la réalisation des modes opératoires pour l’analyse des résultats ; — la détermination de leurs incertitudes. Les principes de la technique de diffraction des rayons X au synchrotron sont décrits et mis en perspective avec l’EN 15305:2008 et l’EN ISO 21432:2020 qui sont utilisées pour évaluer les contraintes dans la masse d’une éprouvette. |
| ICS: | 19.100 - Ensayos no destructivos |
| CTN: | CEN/TC 138 - 6120 |
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