XP ISO/TS 21749
Measurement and uncertainty for metrological applications - Repeated measurements and nested experiments
| Fecha edición: |
2005-10-01
En Vigor
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| Idiomas disponibles: | Francés, Inglés |
| Resumen: | Le présent document suit la méthode donnée dans le Guide pour l'expression de l'incertitude de mesure, consistant à établir et combiner les composantes de l'incertitude. À cette structure de base, il ajoute un cadre statistique utilisant l'analyse de variance (ANOVA) pour l'estimation de composantes individuelles, en particuliercelles classées comme des évaluations de Type A de l'incertitude, c'est-à-dire basées sur l'utilisation de méthodes statistiques. Les évaluations de Type B de l'incertitude (non statistiques) sont décrites brièvement pour que le document soit complet. Le présent guide couvre des situations expérimentales où les composantes de l'incertitude peuvent être estimées à partir d'une analyse statistique de mesurages répétés, d'instruments, d'individus d'essai ou d'étalons de contrôle. Ce guide donne des méthodes permettant d'obtenir des incertitudes à partir de plans emboîtés à un, deux et trois niveaux seulement. Il n'aborde pas les situations expérimentales plus complexes où, par exemple, il existe une interaction entre les effets dus à l'opérateur et les effets dus à l'instrument ou un effet croisé. |
| Keywords: | STATISTICS|STATISTICAL ANALYSIS|METROLOGY|MEASUREMENT|UNCERTAINTY|DEFINITIONS |
| ICS: | 17.020 - Metrología y medición en general |
| CTN: | |
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Equivalencia Internacional |
Idéntica ISO/TS 21749:2005 |










