NF X43-296
Workplace air. X-ray determination of the conventional alveolate fraction of crystalline silica. Sampling by membrane filter.
| Fecha edición: |
1995-06-01
En Vigor
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| Idiomas disponibles: | Francés |
| Resumen: | Le présent document décrit une méthode d'échantillonnage sur les lieux de travail de la fraction conventionnelle alvéolaire d'aérosols et le dosage, dans les particules collectées, de la silice cristalline. La méthode de dosage proposée repose sur la diffractométrie de rayons X et est appliquée à la fraction collectée par un filtre situé dans un système porte-filtre faisant suite à un cyclone 10 mm (voir NF X 43-259) ; elle ne prend pas en compte d'éventuels dépôts sur les parois des parties de l'appareillage situées en amont du filtre.La méthode de dosage proprement dite peut être appliquée à des échantillons de particules d'aérosols obtenus avec différents types d'échantillonneurs, ou à d'autres échantillons (voir 7.3). Les résultats obtenus ne peuvent être alors directement interprétés en référence aux valeurs limites, qui s'appliquent à la fraction conventionnelle alvéolaire des aérosols.Afin d'éviter que des particules grossières ne viennent au contact du filtre, il est impératif de ne pas retourner le cyclone tant que le système porte-filtre est solidaire de l'ensemble.La méthode fournit la concentration moyenne des particules de la fraction conventionnelle alvéolaire pendant la durée de l'échantillonnage ; elle ne peut s'appliquer au suivi en temps réel des variations de cette concentration, ni au dosage de la silice amorphe. Elle est applicable pour des analyses quantitatives précises lorsque la concentration dans l'air des particules de la fraction conventionnelle alvéolaire de l'aérosol est supérieure à environ 50 mg.m-3 de silice cristalline, pour une durée d'échantillonnage de l'ordre de 6 h. |
| Keywords: | AIR|QUALITY|AIR POLLUTION|WORKROOM|DETERMINATION|CONCENTRATION|SILICON DIOXIDE|SAMPLING|DETERMINATION OF CONTENT|X RAYS|FILTERS |
| ICS: | 13.040.30 - Aire en los lugares de trabajo |
| CTN: |










