NF ISO 23830
Surface chemical analysis - Secondary-ion mass spectrometry - Repeatability and constancy of the relative-intensity scale in static secondary-ion mass spectrometry
| Fecha edición: |
2009-02-01
En Vigor
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| Idiomas disponibles: | Inglés, Francés |
| Resumen: | La présente Norme internationale spécifie une méthode permettant de confirmer la répétabilité et la constance de l'échelle des intensités relatives des ions positifs des spectromètres statiques de masse d'ions secondaires en vue d'une analyse générale. Elle ne s'applique qu'aux instruments qui comportent un canon à électrons pour la neutralisation de la charge. Elle n'est pas destinée à étalonner la fonction de réponse intensité/masse. Le fabricant de l'instrument ou un autre organisme peut procéder à cet étalonnage. La présente méthode fournit des données permettant de confirmer la constance des intensités relatives tout au long de l'utilisation de l'instrument. Elle donne des indications concernant certains réglages de l'instrument susceptibles d'avoir une incidence sur la constance. |
| Keywords: | SURFACE PROPERTIES|AREA|CHEMICAL ANALYSIS|MASS SPECTROMETRY|IONS|STABILITY|MEASUREMENT|INTENSITY|MASS SPECTROMETERS|ADJUSTMENT|CATEGORIES|PERFORMANCE EVALUATION|SAMPLES|COMPUTATION |
| ICS: | 71.040.40 - Análisis químico |
| CTN: | |
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Equivalencia Internacional |
Idéntica ISO 23830:2008 |










