NF EN 62132-1
Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity - Part 1 : general conditions and definitions
| Fecha edición: |
2016-05-20
En Vigor
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| Idiomas disponibles: | Inglés, Francés |
| Resumen: | Domaine d'applicationLa présente partie de l'IEC 62132 fournit des informations générales et des définitions relatives à la mesure de l'immunité électromagnétique des circuits intégrés (CI) aux perturbations conduites et rayonnées. Elle définit également les conditions générales d'essai, l'équipement et le montage d'essai, ainsi que les méthodes d'essai et le contenu des rapports d'essai pour toutes les parties de la série IEC 62132. Des tableaux de comparaison des méthodes d'essai sont inclus dans l'Annexe A pour aider à la sélection de la ou des méthodes de mesure appropriées. |
| Keywords: | INTEGRATED CIRCUITS|DEFINITIONS|MEASUREMENT|TESTS|TESTING CONDITIONS |
| ICS: | 31.200 - Circuitos integrados. Microelectrónica, 33.100.20 - Inmunidad |
| CTN: | |
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Equivalencia Internacional |
Idéntica EN 62132-1:2016 |
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Reemplazo Normas |
Reemplaza a NF EN 62132-1:200605 (C96-261-1) |










