NF EN 60749-1
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 1 : general
| Edition date: |
2003-11-01
In Force
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|---|---|
| Available languages: | French |
| Summary: | La présente partie de la IEC 60749 est applicable aux dispositifs à semiconducteurs (dispositifs discrets et circuits intégrés) et établit des dispositions communes à toutes les autres parties de la série.Au cas où il y aurait contradiction entre cette norme et une spécification d'équipement particulière, cette dernière prévaudrait. |
| Keywords: | ELECTRONIC COMPONENTS|MECHANICAL TESTS|GENERALITIES|TEST ATMOSPHERES|ELECTRIC MEASUREMENTS |
| ICS: | 31.080.01-Semiconductor devices in general |
| CTN: | |
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International Equivalence |
Identic EN 60749-1:2003 Identic IEC 60749-1:2002 |
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Reemplazo Normas |
Reemplaza a NF EN 60749:199912 (C96-022) Reemplaza a NF EN 60749/A1:200202 (C96-022/A1) Reemplaza a NF EN 60749/A2:200206 (C96-022/A2) |










