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Normas IEC
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IEC
IEC 60749-8:2002/COR2:2003
En Vigor
2003-08-12
Corrigendum 2 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test
methods - Part 8: Sealing
IEC
IEC 60811-511:2012+AMD1:2017 CSV
En Vigor
2017-07-21
Electric and optical fibre cables - Test methods for non-metallic
materials - Part 511: Mechanical tests - Measurement of the melt flow
index of polyethylene and polypropylene compounds
IEC
IEC 60749-13:2018
En Vigor
2018-02-15
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 13:
Salt atmosphere
IEC
IEC 60050-102:2007/AMD2:2020
En Vigor
2020-05-26
Amendment 2 - International Electrotechnical Vocabulary (IEV) - Part
102: Mathematics - General concepts and linear algebra
