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Normas UNE - AENOR
UNE-EN 62415:2010

UNE-EN 62415:2010

Dispositivos de semiconductores. Ensayo de electromigración de intensidad constante. (Ratificada por AENOR en septiembre de 2010.)

Semiconductor devices - Constant current electromigration test (Endorsed by AENOR in September of 2010.)

Dispositifs à semiconducteurs - Essai d'électromigration en courant constant (Entérinée par l’AENOR en septembre 2010.)

Fecha Edición:
2024-05-25 /Vigente
Idiomas Disponibles:
Inglés
Fecha ratificación:
2010-09-01 /Vigente
Equivalencias internacionales:

EN 62415:2010(Idéntico)

IEC 62415:2010(Idéntico)

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Idioma Formato

Formato físico y digital

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