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UNE-EN 62374-1:2010
Dispositivos semiconductores. Ensayo de ruptura dieléctrica dependiente del tiempo (TDDB) para capas intermetálicas (Ratificada por AENOR en marzo de 2011.)
| Fecha edición: |
2011-03-01
En Vigor
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|---|---|
| Fecha de ratificación: | 2011-03-01 |
| Idiomas disponibles: | Inglés |
| ICS: | 31.080 - Dispositivos semiconductores |
| CTN: | CTN 209/SC 47 - Dispositivos de semiconductores |
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Anulaciones Normas |
Anula a UNE-EN 62374:2007 |
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Equivalencia Internacional |
Idéntica EN 62374-1:2010 Idéntica EN 62374-1:2010/AC:2011 Idéntica IEC 62374-1:2010 |










