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Normas UNE - AENOR
UNE-EN 62047-22:2014

UNE-EN 62047-22:2014

Dispositivos semiconductores. Dispositivos micro-electromecánicos. Parte 22: Métodos de ensayo de tensión electromecánica para películas delgadas conductoras sobre sustratos flexibles (Ratificada por AENOR en noviembre de 2014.)

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 22: Electromechanical tensile test method for conductive thin films on flexible substrates (Endorsed by AENOR in November of 2014.)

Dispositifs à semiconducteurs - Dispositifs microélectromécaniques - Partie 22: Méthode d'essai de traction électromécanique pour les couches minces conductrices sur des substrats souples (Entérinée par l’AENOR en novembre 2014.)

Fecha Edición:
2023-04-20 /Vigente
Idiomas Disponibles:
Inglés
Fecha ratificación:
2014-11-01 /Vigente
Equivalencias internacionales:

EN 62047-22:2014(Idéntico)

IEC 62047-22:2014(Idéntico)

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Idioma Formato

Formato físico y digital

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