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Normas UNE - AENOR
UNE-EN 62047-18:2013

UNE-EN 62047-18:2013

Dispositivos semiconductores. Dispositivos micro-electromecánicos. Parte 18: Métodos de ensayo de doblado para materiales de película fina. (Ratificada por AENOR en noviembre de 2013.)

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 18: Bend testing methods of thin film materials (Endorsed by AENOR in November of 2013.)

Dispositifs à semiconducteurs - Dispositif microélectromécaniques - Partie 18: Méthodes d’essai de flexion des matériaux en couche mince (Entérinée par l’AENOR en novembre 2013.)

Fecha Edición:
2024-05-25 /Vigente
Idiomas Disponibles:
Inglés
Fecha ratificación:
2013-11-01 /Vigente
Equivalencias internacionales:

EN 62047-18:2013(Idéntico)

IEC 62047-18:2013(Idéntico)

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Idioma Formato

Formato físico y digital

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