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UNE-EN 62047-11:2013
Dispositivos semiconductores. Dispositivos microelectromecánicos. Parte 11: Método de ensayo para coeficientes de expansión térmica lineales de materiales MEMS independientes (Ratificada por AENOR en noviembre de 2013.)
| Fecha edición: |
2013-11-01
En Vigor
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| Fecha de ratificación: | 2013-11-01 |
| Idiomas disponibles: | Inglés |
| ICS: | 31.080.99 - Otros dispositivos semiconductores |
| CTN: | CTN 209/SC 47 - Dispositivos de semiconductores |
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Equivalencia Internacional |
Idéntica IEC 62047-11:2013 Idéntica EN 62047-11:2013 |










