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Normas UNE - AENOR
UNE-EN 62047-11:2013

UNE-EN 62047-11:2013

Dispositivos semiconductores. Dispositivos microelectromecánicos. Parte 11: Método de ensayo para coeficientes de expansión térmica lineales de materiales MEMS independientes (Ratificada por AENOR en noviembre de 2013.)

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 11: Test method for coefficients of linear thermal expansion of free-standing materials for micro-electromechanical systems (Endorsed by AENOR in November of 2013.)

Dispositifs à semiconducteurs - Dispositifs microélectromécaniques - Partie 11: Méthode d'essai pour les coefficients de dilatation thermique linéaire des matériaux autonomes pour systèmes microélectromécaniques (Entérinée par l’AENOR en novembre 2013.)

Fecha Edición:
2024-05-24 /Vigente
Idiomas Disponibles:
Inglés
Fecha ratificación:
2013-11-01 /Vigente
Equivalencias internacionales:

EN 62047-11:2013(Idéntico)

IEC 62047-11:2013(Idéntico)

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Idioma Formato

Formato físico y digital

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