Saltar navegación principal
Estás en: Home>Normas>Buscador de normas>UNE
Normas UNE - AENOR
UNE-EN 60749-31:2004

UNE-EN 60749-31:2004

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 31: Inflamabilidad de dispositivos con encapsulado plástico (provocada internamente).

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 31: Flammability of plastic-encapsulated devices (internally induced)

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques -- Partie 31: Inflammabilité des dispositifs à encapsulation plastique (cas d'une cause interne d'inflammation).

Fecha Edición:
2004-03-18 /Vigente
Idiomas Disponibles:
Español, Inglés
Equivalencias internacionales:

EN 60749-31:2003(Idéntico)

IEC 60749-31:2002(Idéntico)

27
Idioma Formato

Formato físico y digital

Nota: Precios sin IVA ni gastos de envío

Descuentos no acumulables

Añadir a la cesta

50% descuento si compras la misma norma UNE en distintos idiomas.