UNE-EN 60749-27:2006
Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 27: Ensayo de la sensibilidad de la descarga electrostática. Modelo máquina (HBM) (IEC 60749-27:2006)(Ratificada por AENOR en noviembre de 2006.)
| Fecha edición: |
2006-11-01
En Vigor
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| Fecha de ratificación: | 2006-11-01 |
| Idiomas disponibles: | Inglés |
| ICS: | 31.080.01 - Dispositivos semiconductores en general |
| CTN: | CTN 209/SC 47 - Dispositivos de semiconductores |
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Equivalencia Internacional |
Idéntica EN 60749-27:2006 Idéntica IEC 60749-27:2006 |
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Modificaciones Normas |
Es modificada por UNE-EN 60749-27:2006/A1:2012 |










