UNE-EN 60749-16:2003
Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 16: Detección del ruido de impacto de partículas (PIND).
| Fecha edición: |
2003-11-21
En Vigor
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| Idiomas disponibles: | Inglés, Español |
| ICS: | 31.080.01 - Dispositivos semiconductores en general |
| CTN: | CTN 209/SC 47 - Dispositivos de semiconductores |
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Equivalencia Internacional |
Idéntica EN 60749-16:2003 Idéntica IEC 60749-16:2003 |










