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UNE-EN 60444-11:2010
Medida de los parámetros de unidades de cristal de cuarzo. Parte 11: Método normalizado para la determinación de la frecuencia de resonancia en carga y la capacitancia de carga efectiva (CLeff) empleando técnicas de análisis automático de redes y corrección de error. (Ratificada por AENOR en febrero de 2011.)
| Fecha edición: |
2011-02-01
En Vigor
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| Fecha de ratificación: | 2011-02-01 |
| Idiomas disponibles: | Inglés |
| ICS: | 31.140 - Dispositivos piezoeléctricos y dieléctricos |
| CTN: | CTN 209/SC 49 - Dispositivos piezoeléctricos y dieléctricos para el control y la selección de frecuencias |
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Equivalencia Internacional |
Idéntica EN 60444-11:2010 Idéntica IEC 60444-11:2010 |










