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IEEE 1500-2005
IEEE Standard Testability Method for Embedded Core-based Integrated Circuits
| Fecha edición: |
2022-03-24
Anulada
|
|---|---|
| Fecha cancelación: | 2022-03-24 |
| Idiomas disponibles: | Inglés |
| Keywords: | core test|embedded core test|IP test|test reuse |
| Scope: | New IEEE Standard - Inactive-Reserved. This standard defines a mechanism for the test of core designs within a system on chip (SoC). This mechanism constitutes a hardware architecture and leverages the core test language (CTL) to facilitate communication between core designers and core integrators. |
| ICS: | |
| CTN: |










