Fecha:
2024-02-28
/Vigente
Idiomas Disponibles:
Bilingüe
Resumen (inglés):
IEC 62836:2024 provides an efficient and reliable procedure to test the internal electric field in the insulating materials used for high-voltage applications, by using the pressure wave propagation (PWP) method. It is suitable for a planar and coaxial geometry sample with homogeneous insulating materials of thickness larger or equal to 0,5 mm and an electric field higher than 1 kV/mm, but it is also dependent on the thickness of the sample and the pressure wave generator.
This first edition cancels and replaces IEC TS 62836 published in 2020.
This edition includes the following significant technical changes with respect to IEC TS 62836:
a) addition of Clause 12 for the measurement of space charge distribution in a planar sample;
b) addition of Clause 13 for coaxial geometry samples;
c) addition of Annex D with measurement examples for coaxial geometry samples;
d) addition of a Bibliography;
e) measurement examples for a planar sample have been moved from Clause 12 in IEC TS 62836 to Annex C.
Resumen (francés):
L’IEC 62836 :2024 fournit une procédure efficace et fiable pour évaluer le champ électrique interne dans les matériaux isolants utilisés pour les applications à haute tension, par la méthode de l'onde de pression (PWP). Cette méthode convient aux échantillons à géométrie plane et coaxiale constitués de matériaux isolants homogènes d'une épaisseur supérieure ou égale à 0,5 mm et aux champs électriques supérieurs à 1 kV/mm, mais elle dépend également de l'épaisseur de l'échantillon et du générateur d'ondes de pression.
Cette première édition annule et remplace l'IEC TS 62836 parue en 2020.
Cette édition inclut les modifications techniques majeures suivantes par rapport à l'IEC TS 62836:
a) ajout de l'Article 12 relatif au mesurage de la répartition des charges d'espace sur un échantillon plan;
b) ajout de l'Article 13 relatif aux échantillons à géométrie coaxiale;
c) ajout de l'Annexe D qui fournit des exemples de mesurages sur des échantillons à géométrie coaxiale;
d) ajout d'une Bibliographie;
e) les exemples de mesurages sur un échantillon plan ont été déplacés de l'Article 12 de l'IEC TS 62836 à l'Annexe C.
Relaciones con otras normas IEC