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IEC 61189-2-805:2024
Test methods for electrical materials, printed boards and other interconnection structures and assemblies - Part 2-805: X/Y CTE test for thin base materials by TMA
| Fecha edición: |
2024-04-18
En Vigor
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| Idiomas disponibles: | Inglés, Francés |
| Resumen: | IEC 61189-2-805:2024 defines the method to be followed for the determination of the X/Y coefficient of thermal expansion of thin electrical insulating materials via the use of a thermomechanical analyser (TMA). This method is applicable to materials that are solid for the entire range of temperature used, and that retain sufficient rigidity over the temperature range so that so that irreversible indentation of the specimen by the sensing probe does not occur. L’IEC 61189-2-805:2024 définit la méthode à suivre pour la détermination du coefficient de dilatation thermique X/Y de matériaux isolants électriques minces par l’utilisation d’un analyseur thermomécanique (TMA, thermomechanical analyser). Cette méthode est applicable aux matériaux qui sont solides sur toute la plage de températures utilisée et qui conservent une rigidité suffisante sur toute la plage de températures, de telle sorte qu'une indentation irréversible du spécimen par la sonde de détection ne se produise pas. |
| ICS: | 31.180 - Tarjetas y circuitos impresos |
| CTN: | TC 91 - 1286 |
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Otras Relaciones |
Acuerdo de Frankfurt prEN IEC 61189-2-805:2021 |










