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IEC 61000-4-17:1999+AMD1:2001+AMD2:2008 CSV
Electromagnetic compatibility (EMC) - Part 4-17: Testing and measurement techniques - Ripple on d.c. input power port immunity test
| Fecha edición: |
2009-01-28
En Vigor
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|---|---|
| Idiomas disponibles: | Inglés, Francés |
| Resumen: | Defines test methods for immunity to ripple at the d.c. input power port of electrical or electronic equipment. Applies to low-voltage d.c. power ports of equipment supplied by external rectifier systems, or batteries which are being charged. This standard defines - test voltage waveform; - range of test levels; - test generator; - test set-up; - test procedure. This consolidated version consists of the first edition (1999), its amendment 1 (2001) and its amendment 2 (2008). Therefore, no need to order amendments in addition to this publication. Définit les méthodes d'essai d'immunité aux ondulations résiduelles appliquées à l'entrée de l'alimentation en courant continu des matériels électriques ou électroniques. S'applique aux entrées de puissance en courant continu basse tension des matériels alimentés par des systèmes redresseurs externes ou par des batteries qui sont en charge. Cette norme définit - la forme d'onde de la tension d'essai; - une gamme de niveaux d'essai; - le générateur d'essai; - l'installation d'essai; - la procédure d'essai. Cette version consolidée comprend la première édition (1999), son amendement 1 (2001) et son amendement 2 (2008). Il n'est donc pas nécessaire de commander les amendements avec cette publication. |
| ICS: | 33.100.20 - Inmunidad |
| CTN: | TC 77/SC 77A - 1384 |
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Modificaciones Normas |
Es modificada por IEC 61000-4-17:1999/AMD1:2001 Es modificada por IEC 61000-4-17:1999/AMD2:2008 |










