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IEC 60749-30:2020 RLV
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 30: Preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing
| Fecha edición: |
2020-08-17
En Vigor
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| Idiomas disponibles: | Inglés |
| Resumen: | IEC 60749-30:2020 RLV contains both the official IEC International Standard and its Redline version. The Redline version is available in English only and provides you with a quick and easy way to compare all the changes between the official IEC Standard and its previous edition.
IEC 60749-30:2020 establishes a standard procedure for determining the preconditioning of non-hermetic surface mount devices (SMDs) prior to reliability testing. |
| ICS: | 31.080.01 - Dispositivos semiconductores en general |
| CTN: | TC 47 - 1251 |
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Anulaciones Normas |
Anula a IEC 60749-30:2005 Anula a IEC 60749-30:2005/AMD1:2011 |
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Otras Relaciones |
Acuerdo de Frankfurt FprEN IEC 60749-30:2020 |










