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IEC 60749-23:2004
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life
| Fecha edición: |
2025-12-09
Anulada
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|---|---|
| Fecha cancelación: | 2025-12-09 |
| Idiomas disponibles: | Español, Inglés, Francés |
| Resumen: | This test is used to determine the effects of bias conditions and temperature on solid state devices over time. It simulates the device operating condition in an accelerated way, and is primarily used for device qualification and reliability monitoring. Cet essai est utilisé pour déterminer les effets des conditions de polarisation et de température avec le temps sur des dispositifs à semiconducteurs. Il simule les conditions de fonctionnement des dispositifs d'une manière accélérée et il est essentiellement destiné à la qualification des dispositifs et au contrôle de fiabilité. |
| ICS: | 31.080.01 - Dispositivos semiconductores en general |
| CTN: | TC 47 - 1251 |
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Anulaciones Normas |
Es anulada por IEC 60749-23:2025 |
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Modificaciones Normas |
Es modificada por IEC 60749-23:2004/AMD1:2011 |
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Reemplazo Normas |
Reemplaza a IEC PAS 62189:2000 |










