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IEC 60749-2:2002/COR1:2003
Corrigendum 1 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 2: Low air pressure
| Fecha edición: |
2003-08-12
En Vigor
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|---|---|
| Idiomas disponibles: | Inglés, Francés |
| Resumen: | Modification of the validity date: now put at 2007. Modification de la date de validité : fixée maintenant à 2007. |
| ICS: | 31.080.01 - Dispositivos semiconductores en general |
| CTN: | TC 47 - 1251 |
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Correcciones Normas |
Modifica/corrige a IEC 60749-2:2002 |










