Estamos mejorando nuestra Tienda, Portal de clientes y Aenormas para ofrecerte una mejor experiencia.
Si detectas cualquier incidencia o necesitas ayuda durante el proceso de compra, puedes contactarnos a través del chat o escribirnos a normas@aenor.com.
Nuestro equipo estará encantado de ayudarte.
IEC 60749-12:2017
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 12: Vibration, variable frequency
| Fecha edición: |
2017-12-13
En Vigor
|
|---|---|
| Idiomas disponibles: | Inglés, Francés |
| Resumen: | IEC 60749-12:2017 describes a test to determine the effect of variable frequency vibration, within the specified frequency range, on internal structural elements. This is a destructive test. It is normally applicable to cavity-type packages This second edition cancels and replaces the first edition published in 2002. This edition constitutes a technical revision. This edition includes the following significant technical changes with respect to the previous edition: a) alignment with MIL-STD-883J Method 2007, Vibration, variable frequency. l'IEC 60749-12:2017 décrit l’essai de vibrations à fréquences variables réalisé pour déterminer l’effet des vibrations sur les éléments de la structure interne, dans les limites de la gamme des fréquences spécifiées. Il s’agit d’un essai destructif. Il est normalement applicable aux boîtiers de type à cavité. Cette deuxième édition annule et remplace la première édition parue en 2002. La présente édition constitue une révision technique. Cette édition inclut les modifications techniques majeures suivantes par rapport à l'édition précédente: a) alignement sur le document MIL-STD-883J Méthode 2007, Vibrations, fréquences variables. |
| ICS: | 31.080.01 - Dispositivos semiconductores en general |
| CTN: | TC 47 - 1251 |
|
Anulaciones Normas |
Anula a IEC 60749-12:2002 Anula a IEC 60749-12:2002/COR1:2003 |
|
Otras Relaciones |
Acuerdo de Frankfurt prEN 60749-12:2017 |










