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IEC 60749-12:2002/COR1:2003
Corrigendum 1 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 12: Vibration, variable frequency
| Fecha edición: |
2017-12-13
Anulada
|
|---|---|
| Fecha cancelación: | 2017-12-13 |
| Idiomas disponibles: | Inglés, Francés |
| ICS: | 31.080.01 - Dispositivos semiconductores en general |
| CTN: | TC 47 - 1251 |
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Anulaciones Normas |
Es anulada por IEC 60749-12:2017 |
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Correcciones Normas |
Modifica/corrige a IEC 60749-12:2002 |










