Estamos mejorando nuestra Tienda, Portal de clientes y Aenormas para ofrecerte una mejor experiencia.
Si detectas cualquier incidencia o necesitas ayuda durante el proceso de compra, puedes contactarnos a través del chat o escribirnos a normas@aenor.com.
Nuestro equipo estará encantado de ayudarte.
IEC 60749-12:2002
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 12: Vibration, variable frequency
| Fecha edición: |
2017-12-13
Anulada
|
|---|---|
| Fecha cancelación: | 2017-12-13 |
| Idiomas disponibles: | Español, Inglés, Francés |
| Resumen: | Describes a test to determine the effect of variable frequency vibration, within the specified frequency range, on internal structural elements. This is a destructive test. It is normally applicable to cavity-type packages. The contents of the corrigendum of August 2003 have been included in this copy. Décrit l'essai de vibrations à fréquences variables réalisé pour déterminer l'effet des vibrations sur les éléments de la structure interne, dans les limites de la gamme des fréquences spécifiées. Il s'agit d'un essai destructif. Il est normalement applicable aux boîtiers de type à cavité. Le contenu du corrigendum d'août 2003 a été pris en considération dans cet exemplaire. |
| ICS: | 31.080.01 - Dispositivos semiconductores en general |
| CTN: | TC 47 - 1251 |
|
Anulaciones Normas |
Es anulada por IEC 60749-12:2017 |
|
Correcciones Normas |
Es corregida por IEC 60749-12:2002/COR1:2003 |
|
Reemplazo Normas |
Reemplaza a IEC PAS 62187:2000 Reemplazada parcialmente a IEC 60749:1996 Reemplazada parcialmente a IEC 60749:1996/AMD1:2000 Reemplazada parcialmente a IEC 60749:1996/AMD2:2001 |










