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IEC 60747-5-3:1997
Discrete semiconductor devices and integrated circuits - Part 5-3: Optoelectronic devices - Measuring methods
| Fecha edición: |
2016-02-23
Anulada
|
|---|---|
| Fecha cancelación: | 2016-02-23 |
| Idiomas disponibles: | Inglés, Francés |
| Resumen: | Describes the measuring methods applicable to the optoelectronic devices which are not intended to be used in the fibre optic systems or subsystems. Décrit les méthodes de mesure applicables aux dispositifs optoélectroniques qui ne sont pas prévus pour être utilisés dans les systèmes ou sous-systèmes à fibres optiques. |
| ICS: | 31.260 - Optoelectrónica. Equipos láser |
| CTN: | TC 47/SC 47E - 1371 |
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Modificaciones Normas |
Es modificada por IEC 60747-5-3:1997/AMD1:2002 |
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Reemplazo Normas |
Reemplaza a IEC 60747-5:1992/AMD2:1995 Reemplaza a IEC 60747-5:1992/AMD1:1994 Reemplaza a IEC 60747-5:1992 Reemplazada parcialmente a IEC 60747-5-7:2016 Reemplazada parcialmente a IEC 60747-5-4:2006 Reemplazada parcialmente a IEC 60747-5-5:2007 Reemplazada parcialmente a IEC 60747-5-6:2016 |










