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IEC 60747-5:1992
Semiconductor devices - Discrete devices and integrated circuits - Part 5: Optoelectronic devices
| Fecha edición: |
2004-04-07
Anulada
|
|---|---|
| Fecha cancelación: | 2004-04-07 |
| Idiomas disponibles: | Inglés, Francés |
| Resumen: | Provides terminology, letter symbols, essential ratings and
characteristics as well as measuring methods for semiconductor
photo-emitters, photo-electric detectors, photo-sensitive devices
and semiconductor devices utilizing optical radiation for internal
operation. Présente la terminologie, les symboles littéraux, les valeurs limites et caractéristiques essentielles ainsi que les méthodes de mesure pour les photo-émetteurs, les détecteurs photoélectriques, les dispositifs photosensibles à semiconducteurs et les dispositifs utilisant le rayonnement optique pour leur fonctionnement interne. |
| ICS: | 31.260 - Optoelectrónica. Equipos láser |
| CTN: | TC 47/SC 47C - 1370 |
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Anulaciones Normas |
Anula a IEC 60747-5:1984 |
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Modificaciones Normas |
Es modificada por IEC 60747-5:1992/AMD1:1994 Es modificada por IEC 60747-5:1992/AMD2:1995 |
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Reemplazo Normas |
Reemplaza a IEC 60147-1K:1981 Es reemplazada por IEC 60747-5-2:1997 Es reemplazada por IEC 60747-5-3:1997 Es reemplazada por IEC 61747-4:1998 Es reemplazada por IEC 61747-5:1998 Es reemplazada por IEC 61747-6:2004 Es reemplazada por IEC 60747-5-2:1997/AMD1:2002 Es reemplazada por IEC 60747-5-3:1997/AMD1:2002 Es reemplazada por IEC 60747-5-1:1997+AMD1:2001+AMD2:2002 CSV Es reemplazada por IEC 61747-1:1998+AMD1:2003 CSV |










