Estamos mejorando nuestra Tienda, Portal de clientes y Aenormas para ofrecerte una mejor experiencia.
Si detectas cualquier incidencia o necesitas ayuda durante el proceso de compra, puedes contactarnos a través del chat o escribirnos a normas@aenor.com.
Nuestro equipo estará encantado de ayudarte.
DIN IEC 60749-23:2002-10
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life (IEC 47/1636/CD:2002)
| Fecha edición: |
2004-10-01
Anulada
|
|---|---|
| Fecha cancelación: | 2004-10-01 |
| Idiomas disponibles: | Alemán, Inglés |
| Resumen: | This test is used to determine the effects of bias conditions and temperature on solid state devices over time. It simulates the devices' operating condition in an accelerated way and is primarily for device qualification and reliability monitoring Diese Prüfung dient der Ermittlung der Auswirkungen von Vorspannungsbedingungen und Temperatur auf Halbleiterbauelemente in Abhängigkeit von der Zeit. Dabei erfolgt eine beschleunigte Simulation der Betriebsbedingungen der Bauelemente. Die Prüfung wird in erster Linie für die Zulassung der Bauelemente und die Überwachung der Zuverlässigkeit angewendet. |
| Keywords: | Climate|Climatic tests|Components|Definitions|Electrical engineering|Electrical measurement|Electronic engineering|Electronic equipment and components|Environmental testing|Integrated circuits|Life (durability)|Life test|Mechanical testing|Moisture test|Prestress|Semiconductor devices|Semiconductors|Stress time|Temperature test|Testing |
| ICS: | 31.080.01 - Dispositivos semiconductores en general |
| CTN: | |
|
Reemplazo Normas |
Es reemplazada por DIN EN 60749-23:2004-10 |










