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DIN EN ISO 12179:2000-11
Geometrical Product Specifications (GPS) - Surface texture: Profile method - Calibration of contact (stylus) instruments (ISO 12179:2000); German version EN ISO 12179:2000
| Fecha edición: |
2023-04-01
Anulada
|
|---|---|
| Fecha cancelación: | 2023-04-01 |
| Idiomas disponibles: | Inglés, Alemán |
| Resumen: | The document applies to the calibration of the metrological characteristics of contact (stylus) instruments for the measurement of surface texture by the profile method as defined in ISO 3274. The calibration is to be carried out with the aid of measurement standards. Annex B applies to the calibration of metrological characteristics of secondary contact (stylus) instrument which do not conform with ISO 3274. |
| Keywords: | Calibration|Calipers|Contact stylus instruments|Control samples|Definitions|Dimensions|Finishes|Geometric|Geometrical product specification|Geometry|GPS|Marking|Measuring instruments|Measuring techniques|Meters|Product specifications|Profile|Properties|Ripple|Roughness|Roughness (surface)|Specification (approval)|Specifications|Stylus instrument method|Surface-roughness measurement|Surfaces|Testing |
| ICS: | 17.040.40 - Especificación geométrica de productos (GPS) |
| CTN: | |
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Equivalencia Internacional |
Idéntica EN ISO 12179:2000/AC:2008 Idéntica ISO 12179:2000/Cor 1:2003 |
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Modificaciones Normas |
Es modificada por DIN EN ISO 12179 Berichtigung 1:2009-09 |
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Reemplazo Normas |
Reemplaza a DIN EN ISO 12179:1998-07 Es reemplazada por DIN EN ISO 12179:2023-04 |










