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Normas DIN – AENOR
DIN EN 60749-7:2009-10

DIN EN 60749-7:2009-10

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 7: Internal moisture content measurement and the analysis of other residual gases (IEC 47/2021/CDV:2009); German version FprEN 60749-7:2009 / Note: Date of issue 2009-10-05

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 7: Mesure de la teneur en humidité interne et analyse des autres gaz résiduels (CEI 47/2021/CDV:2009); Version allemande FprEN 60749-7:2009 / Attention: Date de parution 2009-10-05

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 7: Messung des inneren Feuchtegehaltes und Analyse von anderen Restgasen (IEC 47/2021/CDV:2009); Deutsche Fassung FprEN 60749-7:2009 / Achtung: Erscheinungsdatum 2009-10-05

Fecha Anulación:
2012-02 /Withdrawn
Idiomas Disponibles:
Bilingüe
Equivalencias internacionales:

FprEN 60749-7 (2009-07)

IEC 47/2021/CDV (2009-07)

Relación con otras normas DIN:

Es reemplazada por: DIN EN 60749-7 (2012-02)

Resumen:
The purpose of this part of DIN EN 60749 is to test and measure the water vapour and other gas content of the atmosphere inside a metal or ceramic hermetically sealed device. It is applicable to semiconductor devices sealed in such a manner but generally only used for high reliability applications such as military or aerospace.
Dieser Teil der IEC 60749 ist vorgesehen für die Messung bzw. Prüfung des Gehalts von Wasserdampf und anderen Gasen in der Atmosphäre eines Bauelements mit hermetisch geschlossenem Metall- oder Keramikgehäuse. Er gilt für Halbleiterbauelemente, die in dieser Weise verschlossen sind, wird jedoch im Allgemeinen nur für Anwendungen mit hoher Zuverlässigkeit benutzt, wie sie z. B. im militärischen Bereich und in der Raumfahrt gelten.
Keywords:
Calibration, Climate, Climatic tests, Components, Definitions, Electrical engineering, Electrical measurement, Electronic engineering, Electronic equipment and components, Environmental testing, Examination (quality assurance), Integrated circuits, Mass spectrometers, Mass spectrometry, Measurement, Measuring techniques, Mechanical testing, Moisture, Moisture contents, Residual gas, Residues, Semiconductor devices, Semiconductors, Testing
65,89
Idioma Formato

Formato digital

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