Saltar navegación principal
Estás en: Home>Normas>Buscador de normas
Organismos
Estado
Vigente
Anulada
Proyecto
Fechas
Desde
Hasta
Idiomas
Buscador de normas

Buscador de normas

Resultados para:

Número de resultados: 13

UNE
Vigente
2003-01-01

Normas para el cálculo del retardo y de la potencia. Parte 2: Especificación para el cálculo del pre-diseño del retardo en librerías CMOS ASIC. (Ratificada por AENOR en enero de 2003)

UNE
Vigente
2002-05-01

Lenguajes de comportamiento. Parte 3-2: Operación matemática en VHDL. (Ratificada por AENOR en mayo de 2002)

UNE
Vigente
2000-11-01

Formato de intercambio para diseño electrónico (EDIF). Parte 1: Versión 3.0.0. (RATIFICADA POR AENOR EN NOVIEMBRE 2000).

UNE
Vigente
2000-11-01

Formato de intercambio para diseño electrónico (EDIF). Parte 2: Versión 4.0.0. (RATIFICADA POR AENOR EN NOVIEMBRE 2000).

UNE
Vigente
2000-11-01

Automatización del diseño. Parte 1: Lenguaje de prueba normalizado para todos los sistemas. Lenguaje de prueba común/abreviado para todos los sistemas (C/ATLAS). (RATIFICADA POR AENOR EN NOVIEMBRE 2000)

UNE
Vigente
1997-12-01

Automatización del diseño. Parte 1: Manual de referencia del lenguaje VHDL. (Ratificada por AENOR en diciembre de 1997.)

UNE
Anulada
2023-03-30

Normas para el cálculo del retardo y de la potencia. Parte 1: Circuitos integrados de retardo y sistemas para el cálculo de la potencia. (Ratificada por AENOR en mayo de 2002)

UNE
Anulada
2023-03-30

Lenguaje de comportamiento. Parte 2: Sistema multilógico VHDL para un modelo de operatividad. (Ratificada por AENOR en mayo de 2002)

UNE
Anulada
2023-03-30

Lenguajes de comportamiento. Parte 3-3: Síntesis en VHDL. (Ratificada por AENOR en mayo de 2002)

UNE
Anulada
2019-11-28

Librerías para la automatización del diseño electrónico. Parte 1: Especificaciones de la información de entrada/salida de los circuitos de almacenamiento temporal. (IBIS Versión 3.2). (Ratificada por AENOR en julio de 2002)

UNE
Anulada
2014-02-06

Formato de intercambio de datos para datos medidos y simulados (ISMO). (Ratificada por AENOR en diciembre de 1997.)

UNE
Anulada
2014-02-06

Descripción de un mini componente ("chip") europeo parametrizable de ensayo. (Ratificada por AENOR en diciembre de 1997.)

Número de resultados: 13