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Directrices del método de ensayo de resistencia dinámica para dispositivos de conversión de energía basados en GaN HEMT (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en mayo de 2022.)

Componentes electrónicos. Almacenamiento a largo plazo de dispositivos electrónicos semiconductores. Parte 9: Casos especiales (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en noviembre de 2021.)

Componentes electrónicos. Almacenamiento a largo plazo de dispositivos electrónicos semiconductores. Parte 7: Dispositivos micro-electromecánicos (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en abril de 2021.)

Modelado de Circuitos Integrados para CEM. Parte 6: Modelos de circuitos integrados para la simulación del comportamiento de la inmunidad de pulso. Inmunidad de pulso conducida (ICIM-CPI) (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en enero de 2021.)

Componentes electrónicos. Almacenamiento a largo plazo de dispositivos electrónicos semiconductores. Parte 8: Dispositivos electrónicos pasivos (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en octubre de 2020.)

Componentes electrónicos. Almacenamiento a largo plazo de dispositivos electrónicos semiconductores. Parte 3: Datos (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en junio de 2020.)

Componentes electrónicos. Almacenamiento a largo plazo de dispositivos electrónicos semiconductores. Parte 6: Dispositivos empaquetados o terminados (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en diciembre de 2018.)

Componentes electrónicos. Almacenamiento a largo plazo de dispositivos electrónicos semiconductores. Parte 4: Almacenamiento. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en septiembre de 2018.)

Modelado de Circuitos Integrados para CEM. Parte 3: Modelos de circuitos integrados para simulación funcional de EMI. Modelo de emisión radiado (ICEM-RE). (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en julio de 2017.)

Circuitos integrados. Evaluación de compatibilidad electromagnética (CEM) de los transmisores. Parte 2: Transmisores LIN (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en marzo de 2017.)

Dispositivos de visualización de cristales líquidos y semiconductores. Parte 4-1: Módulos LCD color matriciales. Características y valores esenciales (Ratificada por AENOR en abril de 2005)

Dispositivos de visualización de cristales líquidos. Parte 2-2: Módulos LCD color matriciales. Especificación marco particular (Ratificada por AENOR en abril de 2005)

Dispositivos de visualización de cristales líquido y semiconductores. Parte 5: Métodos de ensayo ambientales, mecánicos y de endurancia. (Ratificada por AENOR en noviembre de 1998.)

Bus CEI 821 VMEbus. Bus para sistemas de microprocesadores de datos de 1 a 4 octetos. (Ratificada por AENOR en noviembre de 1997.)

ESPECIFICACIÓN MARCO PARTICULAR: PANTALLAS DE CRISTAL LÍQUIDO (LCD). LCD MONOCROMOS SIN CIRCUITO ELECTRÓNICO. (Ratificada por AENOR en septiembre de 1996.)

Vía de datos para sistemas de microprocesadores (multibus I). Parte 1: descripción funcional con especificaciones eléctricas temporizadas (Ratificada por AENOR en diciembre de 1995.)

Vía de datos para sistemas de microprocesadores (multibus I). Parte 2: descripciones mecánicas y descripciones de los pitones para la configuración del sistema de la vía de datos, con conectores directos (Ratificada por AENOR en diciembre de 1995.)

Dispositivos semiconductores. Parte 15: Dispositivos discretos. Dispositivos de potencia de semiconductores aislados (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en enero de 2025.)

Dispositivos de semiconductores. Parte 16-9: Circuitos integrados de microondas. Cambiadores de fase (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en diciembre de 2024.)

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 5: Ensayo continuo de duración de vida bajo temperatura y humedad con polarización. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en marzo de 2024.)

Circuitos integrados. Evaluación de compatibilidad electromagnética (CEM) de los transceptores. Parte 3: Transceptores CAN. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en agosto de 2023.)

Circuitos integrados. Mediciones de las emisiones electromagnéticas. Parte 8: Medición de las emisiones radiadas. Método IC de líneas TEM de placas. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en julio de 2023.)

Dispositivos semiconductores. Directrices de calificación de semiconductores genéricos. Parte 2: Concepto de perfil de misión (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en junio de 2023.)

Dispositivos semiconductores. Dispositivos semiconductores para el sistema IOT. Parte 1: Método de ensayo de detección de variación acústica. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en marzo de 2023.)