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Instalaciones de corriente continua de alta tensión (HVDC). Ensayos de sistema. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en enero de 2023.)

Tecnologías y dispositivos electrónicos wearable. Parte 101-1: Terminología. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en octubre de 2021.)

Óptica y fotónica. Láseres y equipos relacionados con láser. Vocabulario y símbolos. (ISO 11145:2018) (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en febrero de 2019.)

Requisitos de seguridad para sistemas y equipos de conversión de potencia de semiconductores. Parte 2: Convertidores electrónicos de potencia desde 1 000 V en c.a. o 1 500 V en c.c. hasta 36 kV en c.a. o 54 kV en c.c. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en noviembre de 2018.)

Paneles de diodos orgánicos emisores de luz (OLED) para iluminación general. Requisitos de funcionamiento (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en marzo de 2017.)

Instalaciones de corriente continua de alta tensión (HVDC). Ensayos de sistema. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en marzo de 2017.)

Ensayos de sistema para instalaciones de corriente continua de alta tensión (HVDC) (Ratificada por AENOR en enero de 2012.)

Wearable electronic devices and technologies - Part 101-1: Terminology

Afficheurs à diodes électroluminescentes organiques - Partie 1-2 : terminologie et symboles littéraux

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 5: Ensayo continuo de duración de vida bajo temperatura y humedad con polarización. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en marzo de 2024.)

Dispositivos semiconductores. Directrices de calificación de semiconductores genéricos. Parte 2: Concepto de perfil de misión (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en junio de 2023.)

Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 37: Método de ensayo de caída a nivel de tarjeta para componentes usando un acelerómetro. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en enero de 2023.)

Dispositivos optoelectrónicos semiconductores para aplicaciones en sistemas de fibra óptica. Parte 1: Plantillas de especificación para características y valores esenciales. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en diciembre de 2022.)

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 10: Choque mecánico. Dispositivo y submontaje. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en julio de 2022.)

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 28: Ensayo de la sensibilidad a la descarga electrostática. Modelo de dispositivo cargado- Nivel de dispositivo. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en mayo de 2022.)

Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 39: Medida de la difusividad de la humedad y solubilidad en agua en materiales orgánicos para componentes semiconductores. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en marzo de 2022.)

Dispositivos semiconductores. Directrices de calificación de semiconductores genéricos. Parte 1: Guías para la calificación de fiabilidad de circuitos integrados. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en noviembre de 2021.)

Dispositivos semiconductores. Parte 17: Acoplador magnético y capacitivo para aislamiento básico y reforzado. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en marzo de 2021.)

Dispositivos semiconductores. Parte 17: Acoplador magnético y capacitivo para aislamiento básico y reforzado. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en enero de 2021.)

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 20: Resistencia de los dispositivos de montaje superficial (SMD) encapsulados en plástico al efecto combinado de humedad y de calor de soldadura. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en noviembre de 2020.)

Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 15: Resistencia a la temperatura de soldadura para dispositivos montados con agujeros pasantes. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en noviembre de 2020.)

Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 30: Preacondicionamiento de dispositivos de montaje superficial no herméticos antes de su ensayo de fiabilidad. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en noviembre de 2020.)

Dispositivos semiconductores. Parte 5-5: Dispositivos optoelectrónicos. Fotoacopladores. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en octubre de 2020.)

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 41: Métodos de ensayo estándar de fiabilidad de dispositivos de memoria no volátiles (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en octubre de 2020.)