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Número de resultados: 678

UNE
Vigente
2023-01-01

Instalaciones de corriente continua de alta tensión (HVDC). Ensayos de sistema. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en enero de 2023.)

UNE
Vigente
2021-10-01

Tecnologías y dispositivos electrónicos wearable. Parte 101-1: Terminología. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en octubre de 2021.)

UNE
Vigente
2019-02-01

Óptica y fotónica. Láseres y equipos relacionados con láser. Vocabulario y símbolos. (ISO 11145:2018) (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en febrero de 2019.)

UNE
Vigente
2017-03-01

Instalaciones de corriente continua de alta tensión (HVDC). Ensayos de sistema. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en marzo de 2017.)

UNE
Vigente
2014-11-01

Dispositivos semiconductores. Dispositivos micro-electromecánicos. Parte 22: Métodos de ensayo de tensión electromecánica para películas delgadas conductoras sobre sustratos flexibles (Ratificada por AENOR en noviembre de 2014.)

UNE
Vigente
2012-01-01

Ensayos de sistema para instalaciones de corriente continua de alta tensión (HVDC) (Ratificada por AENOR en enero de 2012.)

IEC
VIGENTE
2021-06-29

Wearable electronic devices and technologies - Part 101-1: Terminology

AFNOR
Vigente
2021-08-27

Technologies et dispositifs électroniques - prêts-à-porter - Partie 101-1 : terminologie

AFNOR
Vigente
2018-12-12

Optique et photonique - Lasers et équipements associés aux lasers - Vocabulaire et symboles

UNE
Vigente
2024-03-01

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 5: Ensayo continuo de duración de vida bajo temperatura y humedad con polarización. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en marzo de 2024.)

UNE
Vigente
2023-06-01

Dispositivos semiconductores. Directrices de calificación de semiconductores genéricos. Parte 2: Concepto de perfil de misión (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en junio de 2023.)

UNE
Vigente
2023-01-01

Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 37: Método de ensayo de caída a nivel de tarjeta para componentes usando un acelerómetro. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en enero de 2023.)

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