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Normas UNE - AENOR
UNE-EN 62418:2010

UNE-EN 62418:2010

Dispositivos semiconductores. Ensayo de esfuerzos para metalización en vacio (Ratificada por AENOR en octubre de 2010.)

Semiconductor devices - Metallization stress void test (Endorsed by AENOR in October of 2010.)

Dispositifs à semi-conducteurs - Essai sur les cavités dues aux contraintes de la métallisation (Entérinée par l’AENOR en octobre 2010.)

Fecha Edición:
2024-05-25 /Vigente
Idiomas Disponibles:
Inglés
Fecha ratificación:
2010-10-01 /Vigente
Equivalencias internacionales:

EN 62418:2010(Idéntico)

IEC 62418:2010(Idéntico)

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Idioma Formato

Formato físico y digital

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