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Normas UNE - AENOR
UNE-EN 62132-8:2012

UNE-EN 62132-8:2012

Circuitos integrados. Medición de la inmunidad electromagnética. Parte 8: Medición de la inmunidad radiada. Método de la línea TEM de placas con circuito integrado (IC) (Ratificada por AENOR en noviembre de 2012.)

Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity - Part 8: Measurement of radiated immunity - IC stripline method (Endorsed by AENOR in November of 2012.)

Circuits intégrés - Mesure de l'immunité électromagnétique - Partie 8: Mesure de l'immunité rayonnée - Méthode de la ligne TEM à plaques pour circuit intégré (Entérinée par l’AENOR en novembre 2012.)

Fecha Edición:
2024-05-25 /Vigente
Idiomas Disponibles:
Inglés
Fecha ratificación:
2012-11-01 /Vigente
Equivalencias internacionales:

EN 62132-8:2012(Idéntico)

IEC 62132-8:2012(Idéntico)

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Idioma Formato

Formato físico y digital

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