Saltar navegación principal
Estás en: Home>Normas>Buscador de normas>UNE
Normas UNE - AENOR
UNE-EN 62047-3:2006 (Ratificada)

UNE-EN 62047-3:2006 (Ratificada)

Dispositivos semiconductores. Parte 3: Dispositivos micro-electromecánicos. Pieza de ensayo patrón de película fina para ensayo de tensión (IEC 62047-3:2006) (Ratificada por AENOR en enero de 2007.)

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices -- Part 3: Thin film standard test piece for tensile testing (IEC 62047-3:2006) (Endorsed by AENOR in January of 2007.)

Dispositifs à semiconducteurs - Dispositifs microélectromécaniques -- Partie 3: Eprouvette d'essai normalisée en couche mince pour l'essai de traction (CEI 62047-3:2006) (Entérinée par l’AENOR en janvier 2007.)

Fecha ratificación:
2007-01-01 /Vigente
Equivalencias internacionales:

EN 62047-3:2006 (Idéntico)

IEC 62047-3:2006 (Idéntico)

38
Idioma Formato

Formato físico y digital

Nota: Precios sin IVA ni gastos de envío

Descuentos no acumulables

Añadir a la cesta

50% descuento si compras la misma norma UNE en distintos idiomas.