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Normas UNE - AENOR
UNE-EN 62047-26:2016

UNE-EN 62047-26:2016

Dispositivos semiconductores. Dispositivos microelectromecánicos. Parte 26: Descripción y métodos de medición para microsurcos y estructuras de agujas (Ratificada por AENOR en junio de 2016.)

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 26: Description and measurement methods for micro trench and needle structures (Endorsed by AENOR in June of 2016.)

Dispositifs à semiconducteurs - Dispositifs microélectromécaniques - Partie 26: Description et méthodes de mesure pour structures de microtranchées et de microaiguille (Entérinée par l’AENOR en juin 2016.)

Fecha Edición:
2024-05-25 /Vigente
Idiomas Disponibles:
Inglés
Fecha ratificación:
2016-06-01 /Vigente
Equivalencias internacionales:

EN 62047-26:2016(Idéntico)

IEC 62047-26:2016(Idéntico)

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Idioma Formato

Formato físico y digital

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