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Normas UNE - AENOR
UNE-EN 62047-2:2006

UNE-EN 62047-2:2006

Dispositivos semiconductores. Parte 2: Dispositivos micro-electromecánicos. Métodos de ensayo de tensión de materiales de película fina (IEC 62047-2:2006). (Ratificada por AENOR en enero de 2007.)

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices -- Part 2: Tensile testing method of thin film materials (IEC 62047-2:2006). (Endorsed by AENOR in January of 2007.)

Dispositifs à semiconducteurs - Dispositifs microélectromécaniques -- Partie 2: Méthode d'essai de traction des matériaux en couche mince (CEI 62047-2:2006). (Entérinée par l’AENOR en janvier 2007.)

Fecha Edición:
2024-02-29 /Vigente
Idiomas Disponibles:
Inglés
Fecha ratificación:
2007-01-01 /Vigente
Equivalencias internacionales:

EN 62047-2:2006(Idéntico)

IEC 62047-2:2006(Idéntico)

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Idioma Formato

Formato físico y digital

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