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Normas UNE - AENOR
UNE-EN 62047-15:2015

UNE-EN 62047-15:2015

Dispositivos semiconductores. Dispositivos microelectromecánicos. Parte 15: Métodos de ensayo de la resistencia de la unión entre PDMS y cristal (Ratificada por AENOR en agosto de 2015.)

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 15: Test method of bonding strength between PDMS and glass (Endorsed by AENOR in August of 2015.)

Dispositifs à semiconducteurs - Dispositifs microélectromécaniques - Partie 15: Méthode d'essai de la résistance de collage entre PDMS et verre (Entérinée par l’AENOR en août 2015.)

Fecha Edición:
2024-02-29 /Anulada
Idiomas Disponibles:
Inglés
Fecha anulación:
2018-05-17
Fecha ratificación:
2015-08-01 /Anulada
Equivalencias internacionales:

EN 62047-15:2015(Idéntico)

IEC 62047-15:2015(Idéntico)

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Idioma Formato

Formato físico y digital

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