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Normas UNE - AENOR
UNE-EN 62047-14:2012

UNE-EN 62047-14:2012

Dispositivos semiconductores. Dispositivos microelectromecánicos. Parte 14: Método de medición del límite de formación de los materiales de película metálica. (Ratificada por AENOR en junio de 2012.)

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 14: Forming limit measuring method of metallic film materials (Endorsed by AENOR in June of 2012.)

Dispositifs à semiconducteurs - Dispositifs microélectromécaniques - Partie 14: Méthode de mesure des limites de formage des matériaux à couche métallique (Entérinée par l’AENOR en juin 2012.)

Fecha Edición:
2024-05-25 /Vigente
Idiomas Disponibles:
Inglés
Fecha ratificación:
2012-06-01 /Vigente
Equivalencias internacionales:

EN 62047-14:2012(Idéntico)

IEC 62047-14:2012(Idéntico)

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Idioma Formato

Formato físico y digital

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