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Normas UNE - AENOR
UNE-EN 62047-13:2012

UNE-EN 62047-13:2012

Dispositivos semiconductores. Dispositivos micro-electromecánicos. Parte 13: Métodos de medición del ensayo tipo de resistencia adhesiva al curvado y cizallamiento para estructuras MEMS (Ratificada por AENOR en junio de 2012.)

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 13: Bend- and shear- type test methods of measuring adhesive strength for MEMS structures (Endorsed by AENOR in June of 2012.)

Dispositifs à semiconducteurs - Dispositifs microélectromécaniques - Partie 13: Méthodes d'essais de types courbure et cisaillement de mesure de la résistance d'adhérence pour les structures MEMS (Entérinée par l’AENOR en juin 2012.)

Fecha Edición:
2024-05-25 /Vigente
Idiomas Disponibles:
Inglés
Fecha ratificación:
2012-06-01 /Vigente
Equivalencias internacionales:

EN 62047-13:2012(Idéntico)

IEC 62047-13:2012(Idéntico)

60
Idioma Formato

Formato físico y digital

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